Pattern Illumination for Lightfield Camera

In dieser Arbeit wird ein Ansatz zur Verbesserung der Leistung von Lichtfeldkameras für Anwendungen in der 3D-Messung untersucht. Heutige Lichtfeldkameras haben beim Abbilden von homogenen Flächen (z.B. glatte metallische Flächen) ein Problem: Der notwendige Kontrast einer Oberfläche zur Berechnung der Entfernung ist ungenügend vorhanden. Durch den Einsatz einer strukturierten Beleuchtung soll dieser Nachteil überwunden werden können. Es wurden verschiedene Beleuchtungsmuster (Geometrie, Regelmäßigkeit, usw.) im Hinblick auf die Verbesserung der Leistung des Algorithmus untersucht. Zudem sind unterschiedliche Projektionsarten auf ihre Vor- und Nachteile untersucht worden. Das Ziel dabei war stets, die berechneten Tiefenkarten der Objekte so vollständig wie möglich auszufüllen. Ohne vollständige Tiefenkarte sind metrische Messungen und 3D-Darstellungen von Objekten meist nur bedingt verwendbar. Anhand von diversen praktischen Experimenten wurden zudem Umwelteinflüsse, Messgenauigkeiten und unterschiedliche Materialien mit einem Lichtfeldkamera-Messaufbau untersucht.

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Datum 08.09.2019
Studiengang Photonik
Institut PWO
Typ Bachelorarbeit
Studierende Silvan Ammann
Gilson Orlando
Dozenten Prof. Dr. Stefan Rinner
Prof. Dr. Carsten Ziolek
Partner CSEM Alpnach