2012

  • Keferstein, C., P.; Marxer, M.; Götti, R.; Thalmann, R.; Jordi, T.; Andräs, M.; Becker, J.: Universal High Precision Reference Spheres for Multisensor Coordinate Measuring Machines, CIRP Annals - Manufacturing Technology (2012), 10.1016/j.cirp.2012.03.018.
  • Delacrétaz, Y.; Seydoux, O.; Depeursinge, C.; Ettemeyer, A.: Monte-Carlo simulation of the field back-scattered from rough surfaces, JOSA A  Vol. 29, Iss. 3, pp. 270–277 (2012). 
  • Keferstein, C., P.: EuroStar-Projekt Hot Gauge: Erfahrungsbericht eines Antragstellers; Vortrag anlässlich der Tagung: Innovation ohne Grenzen - Projekte im EU-Raum realisieren -; 27. März 2012; NTB, Buchs
  • Ettemeyer, A.: New three-dimensional fiber probe for multisensor coordinate measurement, Opt. Eng. 51, 081502 (2012), DOI:10.1117/1.OE.51.8.081502

2011

  • Brunn, A.; Delacrétaz, Y.; Depeursinge, C.; Emery, Y.; Ettemeyer, A.: Enlarging the application range of digital holographic microscopes for deformation of rough surfaces, DGaO Proceedings 2011.
  • Caspar, S.; Honegger, M.; Rinner, S.; Lambelet, P.; Bach, C.; Ettemeyer, A.: High speed fringe projection for fast 3D inspection, Proc. SPIE 8082, 80820Y (2011); [Proceedings of Conference on Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VII, München, 23. 05. 2011] doi:10.1117/12.888930
  • Ettemeyer, A.: Optical 3D testing of micro structures, Proc. SPIE 7997 (2010), 79971S; [Fourth International Seminar on Modern Cutting and Measurement Engineering, Peking, China, 10 Dec 2010] Online 26. 05. 2011. doi:10.1117/12.891863
  • Ettemeyer, A.: 3D fiber probe for multi sensor coordinate measurement, Proc. SPIE 8321 (2011), 83211N; [Seventh International Symposium on Precision Engineering Measurements and Instrumentation, Yunnan, China, 07. 08. 2011]. doi:10.1117/12.904709
  • Ettemeyer, A.: Know-how für alle – Innovationszelle Optische Technologien; Interview im NTB-Magazin Folio, November 2011.
  • Götti, R.; Rinner, S.: Highlights der CONTROL 2011 - Innovationen vom Feinsten. Management und Qualität 41 (2011) [6], 29-31.
  • Keferstein, Claus P.: Fertigungsmesstechnik. [praxisorientierte Grundlagen, moderne Messverfahren]. 7. erw. Auflage 2011, 277 S., Wiesbaden: Vieweg + Teubner Verlag. ISBN 978-3-8348-0692-5.
  • Linz, S.; Schöch, A.; Bach, C.; Ettemeyer, A.; Hopp, B.; Andräs, M.: Fiber probe with interferometric z-measurement, 10th IMEKO Symposium LMPMI 2011, 12.-13. 09. 2011, Braunschweig.
  • Marxer, M.; Keferstein C. P.: Innovative Education Concept for Coordinate Metrology using a Blended Learning Approach. 15th International Metrology Congress, 3.-6. 10. 2011, Paris.
  • Marxer, M.; Keferstein, C. P.; Weckenmann, A.: Sustainable Manufacturing Using a Global Education Concept for Coordinate Metrology with a Blended Learning Approach. In: Advances in Sustainable Manufacturing; [Proceedings of the 8th Global Conference on Sustainable Manufacturing], Springer-Verlag, 2011, Part  1, S. 31-35; doi: 10.1007/978-3-642-20183-7_5
  • Spierings, A.B.; Herres, N.; Levy, G.: Influence of the particle size distribution on surface quality and mechanical properties in AM steel parts. Rapid Prototyping Journal 17 (2011) [3], 195-202; doi: 10.1108/13552541111124770
  • Yang, L.Y.; Ettemeyer, A.: Special Section Guest Editorial: Advances of optical metrology in the transportation industry, Optical Engineering 50 (2011), 101501; doi:10.1117/1.3646735
  • Keferstein, Claus P., Marxer, Michael, Weckenmann, Albert:
    New blended learning concept for coordinate measuring techniques with hands-on training over the Internet; 61st CIRP General Assembly in Budapest, Hungary, 21. bis 27.8.2011; 2011

2010

  1. Battaglia, C.; Caspar, S.: Schneller und genauer - Highlights der Control 2010, MQ Management und Qualität, H. 6/2010, S. 30-33
  2. Bischof,M.; Peter, M.; Brunn, A.; Stöck, M.;  Ettemeyer, A.: Investigation on Measurement Accuracy of Digital Image Correlation on Automobile Parts, ICAIM, International Conference on Applications for Image Based Measurements, 2.-3. March 2010, Laupheim, Germany
  3. Keferstein, C.P.: Fertigungsmesstechnik; 7., überarbeitete und erweiterte Aufl. 2011., 277 Seiten, B.G. Teubner Verlag 2011. ISBN 978-3-8348-0692-5
  4. König, M.; Ettemeyer, A.: Gemeinsam geht es besser: Entwicklung von optischen Sensoren in Nähmaschinen, 10. Thurgauer Technologietag, 19.3.2010, Kradolf-Schönenberg, Schweiz
  5. Marxer, M.; Keferstein, C.; Weckenmann, A.: Sustainable Manufacturing Using a Global Education Concept for Coordinate Metrology with a Blended Learning Approach. In: Seliger, G.; Khraisheh, M.; Jawahir, I.S.: Advances in Sustainable Manufacturing, Springer, Berlin, Heidelberg, 2011.
  6. Caspar, S.; Mejnek, K.: Are miniaturised high-precision optis reaching the limits of classical machining?, Photonic international - 2010, p. 27 - 30
  7. Ettemeyer, A.: Optical Testing of Microstructures,4th International Symposium on Modern Cutting & Measuring Engineering, ISMCME 2010, Dec. 10-12, 2010, Bejing, China
  8. Bach, C.; Honegger M.: Photometrische Bildaufnahme- und -auswerteverfahren, Aktuelle Technik, 10-2010

2009

  • Ettemeyer, A.: Applications of Digital Holography to Microstructures; SAE World Congress 2009, April 2009, Detroit, USA
  • Ettemeyer, A.: Optik an der NTB, Vortrag vor Institut für Laser in der Medizin und Messtechnik; Universität Ulm, Februar 2009
  • Ettemeyer, A.: Optische 3D Messtechniken zur Analyse von Mikrostrukturen; STV-2009, März 2009, Buchs SG
  • Ettemeyer, A.; Marxer, M.; Keferstein, C.; Optical 3D Measurement of Micro Structures; Sensor 2009, Mai 2009, Nürnberg
  • Keferstein, C.P.; Battaglia, C.: Kostensenkung durch innovative Schwundkorrektur; Vortrag: Institut für Produktionsmesstechnik, Werkstoffe und Optik (PWO) / SAQ Sektion Ostschweiz, Interstaatliche Hochschule für Technik Buchs, NTB 28.10.2009
  • Götti, R.; Bühler, A.: Weltleitmesse setzt die Trends - Highlights der Control 2009, MQ Management und Qualität, H. 6/2009, S. 32-34

2008

  • Bach, C.; Sager, C.: Robotern das Sehen beibringen. In: MegaLink Precision; H. 05/2008; S. 28-32
  • Bühler, A.; Battaglia, C.: Messtechnik mit grossen Perpektiven - Highlights der Control 2008, MQ Management und Qualitätt, H. 6/2008; S. 28-31
  • Ettemeyer, A.: Kohärentoptische Messverfahren für die flächenhafte 3D-Verformungsanalyse, Leica Technologieforum, Heerbrugg, 15. Februar 2008
  • Ettemeyer, A.: Optical 3D-Measurement Techniques, Environment Professionell Microtechnologies, Beaulieu Lausanne, 3. – 6. Juni 2008
  • Ettemeyer, A.:  Applications of Digital Holography to Microelectromechanical Systems, 2008 Micromechanics, Loughborough, UK, 7. – 9. Juli 2008
  • Ettemeyer, A.:  Technical Optics Laboratory at the NTB in Buchs, Centerfold Beitrag SSOM Bulletin, November 2008
  • Keferstein, C.P.; Bach, C.; Marxer, M.: UNIVERSAL APPROACH FOR THE INTEGRATION OF OPTICAL SENSORS IN ARTICULATING SYSTEMS, Coordinate Measuring Technique, Problems and implementations, University of Bielsko-Biala 2008, ISBN 978-83-60714-40-9, S. 31-36
  • Keferstein, C.P.; Dutschke, W.: Fertigungsmesstechnik; 6., überarbeitete und erweiterte Aufl. 2008., 273 Seiten, B.G. Teubner Verlag 2008. ISBN 978-3-8351-0150-0
  • Keferstein, C.P.; Honegger, D.; Thurnherr, H.; Gschwend, B.: Process monitoring in non-circular grinding with optical sensor; CIRP Annals - Manufacturing Technology, Volume 57, Issue 1, 2008, Pages 533-536, ISSN 0007-8506, DOI: 10.1016/j.cirp.2008.03.133

2007

  1. Engelhardt, W.; Keferstein, C.P.; Prehn, S.:  Qualität sichern - Internationale Fachtagung "Fertigungsmesstechnik 2007" - Bodenseeregion zeigt, wie es geht; MQ Management und Qualität, H. 7-8/2007, S. 30-31
  2. Keferstein, C.P.; Marxer, M.: Qualität sichern - Lernmethoden in der Koordinatenmesstechnik - Blended Learning; MQ Management und Qualität, H. 3/2007, S. 38-40
  3. Keferstein, C.P.; Bach, C.; Ritter, M.: Automatisch Defekte erkennen - Bildverarbeitung zur Qualitätssicherung; MQ Management und Qualität, H. 1-2/2007, S. 28-30
  4. Keferstein, C.P.; Bach, C.; Ritter, M.; Manser, A.; Graf, M.: Détection automatique de porosité et retassure dans des percages de pièces en aluminium coulées sous pression; 13th International Metrology Congress - Innovation and knowledge transfer, 18-21. Juni 2007, Lille, Frankreich, ISBN: 2-915416-06-0
  5. Keferstein, C.P.; Marxer, M.: Form Measurements with Coordinate Measuring Machines, TEST AND MEASUREMENT CONFERENCE 2007,  19 to 21 November 2007, Johannesburg, Südafrika
  6. Keferstein, C.P.; Wagner, H.P.; Kreyssing, A.; Engelhardt, W.; Möller, R.; Keist, T.; Thalmann, R.: Fertigungsmesstechnik - Messen in der Praxis; Schweizer Maschinenmarkt, H. 20 S. 88-91
  7. Manser, A.; Battaglia, C.: Qualität sichern - Highlights der Control 2007 - Prozessnah und berührungslos; MQ Management und Qualität, H. 6/2007, S. 37-39
  8. Marxer, M.; Wipf, D.: Qualität sichern - Koordinatenmesstechnik nahe an den Prozessen - Optische Tastsysteme auf dem Vormarsch; MQ Management und Qualität, H. 5/2007, S. 8-10

2006

  1. Bach, C.; Ritter, M.: Automatisierte Erkennung von Poren und Lunkern in Bohrungen von Aluminium-Druckgussgehäusen; Vortrag: Machine Vision Excellence 2006 Tagung, Fraunhofer IPA Technologieforum, 12. Juli 2006, Stuttgart-Vaihingen
  2. Ettemeyer, A.: Materials Evaluation with Full-field Laser NDT Techniques; Materials Evaluation, July 2006, Vol. 64, No. 7
  3. Ettemeyer, A.: Messen mit Licht – schnelle Erkennung von 3D-Form und Verformung mit optischer Prüftechnik; 2. Fachtagung Optische Industriesensorik, Böblingen, 17./18.10.2006
  4. Keferstein, C.P.; Honegger, D.; Ritter, M.: Marktanalyse optischer 1D-, 2D, 3D-Sensoren und optischer KMG; QZ - Qualität und Zuverlässigkeit, 51. Jahrgang (2006), H. 8/2006, S. 40-41; Carl Hanser Verlag München

2005

  1. Dutschke, W.; Keferstein, C.P.: Fertigungsmesstechnik; 5., neubearb. Aufl. 2005. IX, 252 Seiten, B.G. Teubner Verlag 2005. ISBN 3-519-46322-9
  2. Keferstein, C.P.: OSIS (Optical Sensor Interface Standard). Erfahrungen und Stand der Arbeiten; Vortrag: 2. Internationale Anwenderkonferenz auf der Messe "Control", Sinsheim 26.-29. April 2005
  3. Keferstein, C.P.: Produktionsprozessoptimierung. Innovationsmanagement, Demingkreis, beherrschte Prozesse, Bedeutung der Messtechnik am Beispiel neuer Produktionsprozessketten; Vortrag: Institut für Qualitätstechnologie, NTB-QT / SAQ-Rheintal, Interstaatliche Hochschule für Technik Buchs, NTB 20.04.2005
  4. Keferstein, C.P.; Bach, C.; Marxer, M.: Fertigungsmesstechnik, Entwicklung und Einsatz morgen; Vortrag: Tagung Fertigungsmesstechnik in der Praxis heute und morgen, Interstaatliche Hochschule für Technik Buchs, NTB 20.10.2005
  5. Keferstein, C.P.; Engelhardt, W.: Hochschulübergreifende Ausbildung in der Qualitätsprüfung und Fertigungsmesstechnik im Rahmen der Internationalen Bodenseehochschule (IBH); Beiträge zum 6. Tag der Lehre. Fachhochschule Ulm 24. November 2005. S. 29-32. Hrsg.: Studienkommission für Hochschuldidaktik an Fachhochschulen in Baden-Württemberg. ISBN 3-00-017324-2
  6. Keferstein, C.P.; Engelhardt, W.; Lippuner, O.: Hochschulübergreifende Ausbildung. Qualitätsprüfung und Fertigungsmesstechnik; Fachhochschule Schweiz (fh-ch), Nr.2/2005, S. 12-13
  7. Keferstein, C.P.; Marxer, M.: Ausbildungskonzept für Koordinatenmesstechnik, Europa zieht an einem Strang; MQ, H. 11/2005, S. 28-29
  8. Keferstein, C.P.; Marxer, M.: Durch Messunsicherheits- und Fähigkeitsanalysen Kundenvertrauen gewinnen, Haftungsrisiken vermeiden und Produktionskosten sparen; Vortrag: Institut für Qualitätstechnologie, NTB-QT / SAQ-Rheintal Vortrag, Interstaatliche Hochschule für Technik Buchs, NTB 21.09.2005
  9. Keferstein, C.P.; Marxer, M.: METROeLEARN. European E-learning for Manufacturing Metrology; La maîtrise des processus de mesure, vecteur du développement durable, 12 Congrès International de Métrologie, 20-23 juin 2005 Lyon, France CD-ROM. ISBN 2-9154-16-03-6
  10. Keferstein, C.P.; Marxer, M.; Weckenmann, A.; Beetz, S.: EUKOM. Ein europäisch abgestimmtes, auf eLearning basierendes, neues Ausbildungskonzept für die Koordinatenmesstechnik; Koordinatenmesstechnik, Innovative Entwicklungen im Fokus des Anwenders. Tagung Braunschweig 15.+16. November 2005. S. 109-118. Düsseldorf: VDI Verlag, 2005. (VDI-Berichte 1914)
  11. Keferstein, C.P.; Marxer, M.; Weckenmann, A.; Beetz, S.: Pilotanwendung / Pilottraining courses; European Training in Coordinate Metrology, (Impulse H. 20), S. 15-17. ISSN 1618-9477 ISBN 3-88555-775-6 Bestellnr. 09.112 Lehrstuhl QFM, Universität Erlangen-Nürnberg

2004

  1. Bach, C.; Boucky, O.; Keferstein, C.P.; Züst, R.: Optische Sensoren in der Koordinatenmesstechnik; QZ, 49 (2004), H. 5, S. 92-95
  2. Bach, C.; Keferstein, C.P.: OSIS (Optical Sensor Interface Standard); 8th International Symposium on Measurement and Quality Control in Production, Symposium Erlangen, 12.-15.10.2004 (VDI-Bericht 1860, 2004, p. 173-180)
  3. Beetz, S.; Marxer, M.; Keferstein, C.P.; Weckenmann, A.: METROeLEARN European e-learning for Manufacturing Metrology; IMS International Forum 2004, Part 2, Italy, Grafica Sovico srl - Biassono (Milano); May 2004; ISBN 88-901168-9-7, p. 1372-1380
  4. Heinzelmann, E.; Keferstein, C.P.; Loher, M.; Vetter, W.: Le formage à froid de haute précision; La Revue Polytechnique, No 1683 (8/04), p. 331 - 333
  5. Heinzelmann, E.; Keferstein, C.P.; Loher, M.; Vetter,W.: Fachhochschul-Know-how für präzises Kaltumformen; SMM, 105 (2004), H. 11, S. 25-30
  6. Keferstein, C.P., et. al.: 8th International Symposium on Measurement and Quality Control in Production; 8th International Symposium on Measurement and Quality Control in Production, Symposium Erlangen, 12.-15.10.2004 (VDI-Bericht 1860, 2004, p. 351-358)
  7. Keferstein, C.P.; Marxer, M.: Weiterbildungskonzept des NTB-QT in Qualitätsmanagement und Fertigungsmesstechnik für die Industrie; MQ, 34 (2004), H. 2/2004, S. 39
  8. Keferstein, C.P.; Züst, R.: Minimizing technical and financial risk when integrating and applying optical sensors for inprocess measurement; IMS International Forum 2004, Part 1, Italy, Grafica Sovico srl - Biassono (Milano); May 2004; ISBN 88-901168-9-7, p. 475-482
  9. Loher, M.; Saladin D.; Keferstein, C.P.; Vetter W.; Keppler-Ott, Th.: Non-classical Design of Experiments in cold forging: Process optimication with data-based process models; Intelligent Computation in Manufacturing Engieneering, Editor: R. Teti (2004), ISBN 88-87030-79-0

2003

  1. Boucky, O., Ercole, M., Keferstein, C.P., Osborne, J., Wallace, D., Züst, R.:AMS - Automotive Manufacturing Solutions, 2003, Nov./Dec., p. 46 - 50
  2. Keferstein, C.P., Marxer, M., Vetter, W., Züst, R.: Messunsicherheit bei der optischen Antastung von Oberflächen zur Geometriemessung; Tagung: Oberhof/Thüringen, 20.-21.11.2003 (VDI-Bericht 1805, 2003, S. 211-222)
  3. Marxer, M.; Züst, R.: Trends der Fertigungsmesstechnik und Qualitätsprüfung, Control '03 weiter im Aufwind; MQ, 33 (2003), H. 6, S. 37-39
  4. Boucky, O., Ercole, M., Keferstein, C.P., Wallace, D., Züst, R.: Gemeinsamer Standard, Integration optischer Sensoren in Koordinatenmessgeräte; Sonderdruck QZ, 48 (2003), H. 5/2003, S. 48; Carl Hanser Verlag München
  5. Keferstein, C.P., Ritter, M., Züst, R.: Marktanalyse 1D - 3D optischer Sensoren, 3. erw. Neuaufl; Qualitätstechnologie, Interstaatliche Hochschule für Technik, Buchs-SG (CH), 2003, ISBN 3-907134-13-3

2002

  1. Keferstein, C.P.; Gächter, O.: Effizienz im Messlabor; MQ, 32 (2002), H. 04/2002, S. 10-13
  2. Keferstein, C.P.; Marxer, M.: Optimierungsmöglichkeiten bei der Herstellung von individuellem Wasserzeichen-Papier; Wochenblatt für Papierfabrikation, (2002), H.11/12, S.826-833
  3. Keferstein, C.P.; Marxer, M.: Oberflächen- und Konturmesstechnik; Control '02, Technik Forum Carl Zeiss Industrielle Messtechnik, 11.4.2002
  4. Keferstein, C.P.; Marxer, M.; Gächter, O.; Züst, R.: Optische Sensoren auf Koordinatenmessgeräten; Control '02, Technik Forum Carl Zeiss Industrielle Messtechnik; 11.4.2002
  5. Marxer, M.; Züst, R.: Trends und Neuheiten Control '02, Optische Messverfahren setzen sich durch; MQ, 32 (2002), H. 05/2002, S. 8-11
  6. Züst, R.: Bildverarbeitung in der Qualitätsprüfung; MQ, 32 (2002), H.12/2002, S.29