Schichtdicken-Bestimmung
Einrichtungen für zerstörungsfreie und zerstörende Schichtdickenbestimmungen stehen zur Verfügung:
Zerstörungsfreie Schichtdickenmessung
- Fischerscope MMS
- von Cu-Schichten auf Leiterplatten
- von Kunststoffen und Eloxalschichten
auf unmagnetischem Grundwerkstoff
- von galvanischen Schichten und Lack-
schichten auf Eisenwerkstoffen
Messmethoden:
- magnetinduktiv (DIN EN ISO 2178)
- magnetisch (DIN EN ISO 2178)
- mit Wirbelstrom (DIN EN ISO 2360)
- elektrischer Widerstand (4 Spitzen)
- Röntgenfluoreszenz (in Einzelfällen)
Zerstörende Schichtdickenmessung
- Lichtmikroskopische Schichtdickenbestimmung
nach geeigneter Präparation der Probe wird diese unter dem Licht- oder Rasterelektronenmikroskop betrachtet.
Für die Auswertung wird in beiden Fällen eine PC gestützte Bildanalyse verwendet.
Kontakt: Bettina Schlecht oder Nikolaus Herres