Institut für Produktionsmesstechnik, Werkstoffe und Optik PWO

Herzlich willkommen im Institut für Produktionsmesstechnik, Werkstoffe und Optik. Das Institut PWO ist die richtige Adresse, wenn Sie sich für die Charakterisierung und Entwicklung von Materialien, Werkstücken, Baugruppen oder ganzen Produkten interessieren. Ein Team von ca. 20 Ingenieuren und Wissenschaftlern bearbeitet Fragestellungen und Projekte für die Wirtschaft und bietet Dienstleistungen und Know-how an. Eine hervorragende Infrastruktur steht für eine erfolgreiche Zusammenarbeit zur Verfügung. Die Kompetenzen im Institut liegen in der Präzisionsmesstechnik, Bildverarbeitung (Machine Vision), Werkstofftechnik und Technischer Optik. Wie sehen die Kompetenzfelder im Detail aus? Klicken Sie hier!

 

SAQ ehrt Prof. Claus P. Keferstein

Die Swiss Association for Quality (SAQ) Sektion Ostschweiz hat an ihrer Mitgliederversammlung im April 2013 ihr langjähriges Vorstandsmitglied Prof. Dr.-Ing. Claus P. Keferstein, Leiter des Insituts PWO, zu ihrem Ehrenmitglied ernannt.

Chromatischer Abstandssensor

Ein neuer chromatischer Abstandssensor erlaubt die Prüfung von Oberflächen mit hoher Genauigkeit. Mehr...

Flächenrückführung

Neu bieten wir Ihnen die komplette Flächenrückführung von Fotogrammetrie, über Digitalisierung von Freiformflächen, der Inspektion geometrischer Merkmale sowie die Flächenrückführung mit der Software Polyworks "Alles aus einer Hand" an. Mehr...

Kontakt: Michael Marxer

Optik Kompetenzen

Unser Optiklabor bietet umfangreiche Möglichkeiten für Auslegung, Simulation, Prüfung von optischen Systemen und Komponenten. Gerne führen wir für Sie auch Kleinaufträge und Dienstleistungen durch. Infos über unsere Ausstattung finden Sie hier.

Kontakt: Andreas Ettemeyer

Shack-Hartmann Sensor

Wellenfrontsensoren werden nicht nur bei adaptiven Optiken an Teleskopen eingesetzt, sondern z.B. auch in der Augenheilkunde, zur Vermessung von Laserstrahlen, zur Charakterisierung von Aberrationen bei Linsensystemen oder zur Bestimmung von Oberflächendefekten auf Halbleiter-wafern. Mehr...