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Semi-Automated Wafer Bond System

Substratdurchmesser: 100mm
Bondkraft: 3500N
Max. Fügetemperatur: 550°C
Min. Kammerdruck: 10-4mbar
Substrate: Si, Aluminiumoxid, BF33, AF32, D263, Stahl, Folien, etc.
eutektisch: Cu-Sn, Au-Sn, Au-Si, etc.
thermokompressiv: Au-Au, Pt-Pt, Glas-Glas, etc.
anodisch: Si-BF33, Al-BF33, Cr-BF33, Ta-BF33, etc.
Typ: EVG 520