Oberflächentopographie

Atom-Kraftmikroskop (Atomic Force Microscopy) DI Dimension 3100

DI Dimension 3100

Das Gerät DI3100 der Fa. Veeco ist zusätzlich zum Standard Contact und Tapping Mode, die vorwiegend  topographische Informationen liefern, mit dem PhaseImaging Mode ausgerüstet. Die Aufzeichnung der Phasenänderungen der Cantileveroszillation ermöglicht zusätzliche Informationen z.B. zur chemischen Zusammensetzung an der Probenoberfläche. Mit dem 90 x 90 µm2 Scankopf können Höhenprofile vom nm-Bereich bis max. 6 µm vermessen werden. Die motorisierte Probenaufnahme (125 x 100 mm2) ist für Probengrössen bis 150 mm Durchmesser und 12 mm Dicke geeignet.

Weisslichtinterferometer/Konfokalprofilometer PLµ2300

Sensofar PLµ 2300

Das Gerät PLµ 2300 der Fa. Sensofar ist eine Kombination aus Weisslichtinterferometer und Konfokalprofilometer. Die verschiedenen Messmethoden (VSI, PSI oder konfokal) und eine breite Palette von Objektiven (2.5; 5; 10; 20, 50 und 100x) ermöglichen ein sehr weites Einsatzgebiet. Der 3-achsige motorisierte Tisch kann bis 35 mm hohe und bis 170 x 190 mm2 grosse Proben aufnehmen und mittels Stitching sind zusamengesetzte Messfelder bis 154 x 154 mm2 erreichbar.

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Dektak³ST

Dektak³ST

Das Dektak3ST der Fa. Veeco ist ein tastendes Messinstrument. Mit einem Taststift (Stylus), dessen Spitze aus einem Diamantkügelchen von 2.5 µm Durchmesser besteht, wird die Oberfläche entlang einer Linie abgetastet und deren Verlauf aufgezeichnet.  Die Scanlänge kann zwischen 50 µm und 50 mm gewählt werden. Der vertikale Messbereich ist in 3 Stufen gegliedert und liegt zwischen 10nm und 131 µm. Die motorisierte Probenaufnahme ist geeignet für Proben bis 100 mm Durchmesser und 47 mm Dicke.

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Perthometer S4P

Perthometer S4P

Das Perthometer der Fa. Mahr ist ebenfalls ein tastendes Stufen- und Rauheitsmessgerät, es können Stufenhöhen im Bereich von 500 nm bis 1 mm gemessen werden. Die Scanlänge beträgt zwischen 0.5 und 56 mm.

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