Schichtdicken-Bestimmung

Einrichtungen für zerstörungsfreie und zerstörende Schichtdickenbestimmungen stehen zur Verfügung:

Zerstörungsfreie Schichtdickenmessung

  • von Cu-Schichten auf Leiterplatten
  • von Kunststoffen und Eloxalschichten
       auf unmagnetischem Grundwerkstoff
  • von galvanischen Schichten und Lack-
       schichten auf Eisenwerkstoffen

Messmethoden

  • magnetinduktiv (DIN EN ISO 2178)
  • magnetisch (DIN EN ISO 2178)
  • mit Wirbelstrom (DIN EN ISO 2360)
  • elektrischer Widerstand (4 Spitzen)
  • Röntgenfluoreszenz (in Einzelfällen)

Zerstörende Schichtdickenmessung

Nach geeigneter Präparation der Probe wird diese unter dem Licht- oder Rasterelektronenmikroskop betrachtet.

Für die Auswertung wird in beiden Fällen eine PC gestützte Bildanalyse verwendet.